LCP-27 დიფრაქციის ინტენსივობის გაზომვა
ექსპერიმენტები
1. ერთი ჭრილის, მრავალჯერადი ჭრილის, ფოროვანი და მრავალ მართკუთხედის დიფრაქციის ტესტი, დიფრაქციის ინტენსივობის კანონი იცვლება ექსპერიმენტულ პირობებში
2. კომპიუტერი გამოიყენება ერთი ჭრილის ფარდობითი ინტენსივობისა და ინტენსივობის განაწილების ჩასაწერად, ხოლო ერთი ჭრილის დიფრაქციის სიგანე გამოიყენება ერთი ჭრილის სიგანის გამოსათვლელად.
3. მრავალჯერადი ჭრილის, მართკუთხა ხვრელების და წრიული ხვრელების დიფრაქციის ინტენსივობის განაწილების დაკვირვება
4. ერთი ჭრილის ფრაუნჰოფერის დიფრაქციის დაკვირვება
5.განისაზღვროს სინათლის ინტენსივობის განაწილება
სპეციფიკაციები
| ელემენტი | სპეციფიკაციები |
| ჰე-ნე ლაზერი | >1,5 მვტ @ 632,8 ნმ |
| ერთნაჭრიანი | 0 ~ 2 მმ (რეგულირებადი) 0,01 მმ სიზუსტით |
| გამოსახულების გაზომვის დიაპაზონი | 0.03 მმ ჭრილის სიგანე, 0.06 მმ ჭრილის მანძილი |
| პროექციული საცნობარო ბადე | 0.03 მმ ჭრილის სიგანე, 0.06 მმ ჭრილის მანძილი |
| CCD სისტემა | 0.03 მმ ჭრილის სიგანე, 0.06 მმ ჭრილის მანძილი |
| მაკრო ლინზა | სილიკონის ფოტოცელი |
| AC დენის ძაბვა | 200 მმ |
| გაზომვის სიზუსტე | ± 0,01 მმ |
დაწერეთ თქვენი მესიჯი აქ და გამოგვიგზავნეთ
